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广晟微电子实现TD-SCDMA射频芯片数字化测试方案
时间:2010.06.23

       近日,广晟微电子有限公司(RME)――集成电路行业具领先水平的高频无线通信射频收发芯片供应商,携手LTX-Credence有限公司(NASDAQ:LTXC)――国际知名自动测试方案商,在LTXC的X系列自动测试平台上成功地将新一代TD-SCDMA数字射频收发芯片RS2012投入量产。此测试方案是世界上首款TD-SCDMA数字射频芯片测试方案,也是对TD-SCDMA芯片产品量产测试领域的一个历史性的飞跃。有赖于LTXC、蔚华集成电路有限公司(LTXC在中国和台湾的重要合作伙伴)和广晟微电子的工程师之间的紧密合作,三方通过密切的协作克服了各种技术上的困难,成功地在LTXC测试平台上实现整个数字化测试方案。
    “我们的RS2012是一款高性能的TD-SCDMA数字射频芯片,自然也需要一款优秀的测试机台,不仅要具备良好的射频信号测试性能,并且还要拥有处理业内最新的数字信号开发和处理能力,”广晟微电子总经理王小海说,“很高兴能在LTXC的X系列上短时间内就完成了如此复杂的数字射频芯片的测试方案,也令我们在其上验证到RS2012的优异性能,世界一流的EVM性能-发射机EVM约在2%,接收机EVM约在3%,-38dBc的本振抑制和良好的直流自校功能。可以肯定地说,RS2012能够满足TD-SCDMA市场的所有要求。”
    Dave Tacelli, LTX-Credence的主席兼首席执行官评论道,“在项目之初,我们只是接到需求,要为一款世界先进的3G射频芯片开发ATE量产测试方案。通过有效的协作,我们克服了众多具挑战性的困难,成功地完成了整个测试方案的开发和移植,为RME的RS2012缩短了投入市场的宝贵时间。X系列也为其提供了低成本的射频测试保障。而RME的工程师、LTX-Credence和蔚华之间的机密协作便是这个项目成功的关键。这个项目的成功也充分地证明了,我们有能力为全世界的客户提供一流的技术支持和服务。”

    相关链接:

    搜狐网:广晟微电子实现TD射频芯片数字化测试方案

    腾讯网:广晟微电子实现TD射频芯片数字化测试方案

    中国通信网:广晟微电子实现TD射频芯片数字化测试方案

    飞象网:广晟微电子选用LTXCX系列测试系统实现TD-SCDMA射频芯片数字化测试方案

    南方网:广晟微电子实现TD射频芯片数字化测试方案

    第三代移动通信网:广晟微电子实现TD-SCDMA射频芯片数字化测试方案

    TechWeb:广晟微电子实现TD射频芯片数字化测试方案

    DoNews:广晟微电子选用LTXCX系列测试系统实现TD-SCDMA射频芯片

    BiaNews:广晟微电子实现TD射频芯片数字化测试方案

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